Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)

TEST-ANALİZ

Taramalı Elektron Mikroskopu (SEM)


Marka / Model

  • Carl Zeiss – EVO MA 10

BAŞLICA UYGULAMALAR

  • Metalik malzemelerin görüntü analizi ve karakterizasyonu
  • Edx dedektörü ile numunelerin elementer kompozisyonlarının analizi
  • Metalik malzemelerin faz, mikroyapı, inklüzyon ve hasar analizi

TEKNİK ÖZELLİKLER

  • Tungsten filamen kaynağı ile analiz
  • İkincil elektron (SE) dedektörü ile topografik görüntüleme
  • Geri saçılan elektron (BSE) dedektörü ile kompozisyonel görüntüleme
  • EDS dedektörü ile nokta, alan veya hat boyunca kalitatif ve kantitatif kimyasal kompozisyon analizi
  • 8,5mm çalışma mesafesi ve 25mm2 görüntüleme alanı
  • 100mm yükseklik ve 120mm çapa kadar numune analizi
  • VP modu ile birlikte yalıtkan numunelerde gerektiğinde kaplama yapmadan analiz imkanı